다중 주파수 동시 검사
다중 주파수를 사용함으로써 표면에서 깊은 곳까지 전체적으로 동시에 검사합니다. 높은 주파수는 표면을, 낮은 주파수는 깊은 곳을 검사합니다.
EddyEye HM
와전류 물성 검사 장비
고성능의 인텔 FPGA를 적용한 모델로써 최대 16개의 주파수를 인가하여 전도체 부품 표면에 형성된 와전류를 정밀 분석함으로써 열처리 상태의 물성 변화 정도를 효과적으로 신속히 전수 검사할 수 있는 제품입니다.
응용 분야
- 조직 검사열처리 상태, 다발성 미세 크랙 및 금속 피로도 등의 조직 정밀 비교 검사
- 이종 재질 검사재료 혼입 선별
- 진동 검사형태 불량 감지
- 용접부 검사용접 Spot 비교 검사
- 동심도 검사동심도 상태 실시간 모니터링
- 크랙 검사전도체 기계 부품 미세 결함 검사
- 배터리 파우치 검사탭 용접부 검사
주요 사양
| 채널 | 1 |
|---|---|
| 검사주파수 | 50 Hz ~ 49 kHz |
| 검사속도 | 최대 4 ea/sec |
| 크기 | 482 × 237.5 × 344 mm (W×H×D) |
| 무게 | 약 7 kg |
| 작동온도 | -10 ~ 45 °C |
| 전원 | 100 ~ 240 VAC |
주요 특장점
검사 데이터 레포트 이력 관리
제조, 품질, 관리 등에서 수행된 검사 결과 데이터 전체를 추적하고 기록합니다.
실시간 장비 상태 진단
장비 전면의 직관적인 LED를 통해 장비 상태를 실시간으로 확인할 수 있어 작업자가 신속하게 대처할 수 있습니다.
저발열 및 우수한 내구성
트리거 액셀러레이터 기능을 적용하여 발열이 적고 내구성이 우수합니다.
학습에 의한 자동 게이트 설정
양품 학습을 통해 판정 게이트를 자동으로 설정하는 기능을 제공합니다.
주요 장비 기술
- 검사 데이터 18bit(0~262143)의 높은 정밀도
- 장비의 수명을 획기적으로 늘려주는 샘플링 제어 기술
- 검사 방법의 다양성 제공
- 온도 변화에 따른 Smart 데이터 보상 로직 적용
- 데이터 Tracking 기술에 의한 게이트 자동 오프셋
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시료 테스트부터 센서 맞춤 설계, 장비 설치까지 메가코일 엔지니어가 함께합니다.