전자기 유도 원리를 이용하여 홀의 결함 유무를 정밀 스캔형 또는 위치형으로 나사산을 검사하는 기술입니다.
| 적용 대상 | 탭 홀 |
|---|---|
| 검출 결함 | 이중탭, 중심축 오차, 무탭, 기초경 오차, 탭 깊이, 나사선, 산마모, 산찢어짐, 크랙 등 |
| 검사 방법 | 내삽형 |
검사 화면 및 원리
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전자기 유도 원리를 이용하여 홀의 결함 유무를 정밀 스캔형 또는 위치형으로 나사산을 검사하는 기술입니다.
| 적용 대상 | 탭 홀 |
|---|---|
| 검출 결함 | 이중탭, 중심축 오차, 무탭, 기초경 오차, 탭 깊이, 나사선, 산마모, 산찢어짐, 크랙 등 |
| 검사 방법 | 내삽형 |
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